集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置。该方法包括将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联;通过调用预设应用程序接口,生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面;根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议,实现所述测试测量信号的采集,以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。本申请解决了缺少综合式测试测量系统,无法使信号的产生和信号的采集相关联的技术问题。通过本申请能够应用到更多的测试场景,获取更多维度的测量信息。同时对用户提供开发接口,从而满足用户测试测量应用的相关需求。

基本信息
专利标题 :
集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487664A
申请号 :
CN202210029207.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
苏公雨
申请人 :
苏州硬禾信息科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区新平街388号21幢8层15单元
代理机构 :
北京知果之信知识产权代理有限公司
代理人 :
高科
优先权 :
CN202210029207.6
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G06F8/38  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220111
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332