光场测量方法、装置及存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种光场测量方法、装置及存储介质,该方法包括:依次以多个预设相位差分别对激光器出射的激光束进行分光,而得到对应的多对光束,每对光束中两个光束的相位差为对应的预设相位差;分别对多对光束进行倍频以得到对应的多个倍频光束,并获取多个倍频光束的实测光谱信息;基于实测光谱信息进行至少一次迭代以确定激光束的预测光场信息;根据预测光场信息和多个预设相位差,确定多个倍频光束的预测光谱信息;根据多个倍频光束的预测光谱信息和实测光谱信息,确定累计误差;根据累计误差确定激光束的光场测量结果,从而提供了一种迭代复原激光器光场信息的新方法,以缩短迭代复原出激光器(尤其是飞秒激光器)的光场信息所需的时间。

基本信息
专利标题 :
光场测量方法、装置及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441051A
申请号 :
CN202210102594.1
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
淳秋垒余霞李榕闫大鹏
申请人 :
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
杨婉秋
优先权 :
CN202210102594.1
主分类号 :
G01J11/00
IPC分类号 :
G01J11/00  G01J3/28  G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 11/00
申请日 : 20220127
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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