基于全光场调控的散射介质光场聚焦方法与装置
公开
摘要

本发明属于散射介质光场调控技术领域,涉及一种基于全光场调控的散射介质光场聚焦方法与装置。本发明首次提出对入射散射介质内的光场进行具有振幅、相位、偏振等全部光场信息的全光场调控,通过两套光场调控装置对两束不同偏振方向的光束进行调控来不断优化两个复振幅光场,同时调控其相位和振幅信息,通过合束装置将两个复振幅光场合束后生成目标全光场,进而优化经过散射介质扰乱后形成的散斑分布,得到所需形成的聚焦光束。本发明将全光场调控技术运用到散射介质光场光束聚焦中,增加了光场的调控维度,大幅提升散射介质光场调控的质量,解决了目前振幅、相位或偏振单一维度调制方式导致的散射介质内光场调控精度难以显著提高的难题。

基本信息
专利标题 :
基于全光场调控的散射介质光场聚焦方法与装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518658A
申请号 :
CN202011312066.6
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2020-11-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨佳苗何巧芝刘林仙沈阳龚雷邹高宇
申请人 :
绍兴钜光光电科技有限公司
申请人地址 :
浙江省绍兴市上虞区岭南乡覆卮村廉士下1-75号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011312066.6
主分类号 :
G02B27/09
IPC分类号 :
G02B27/09  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
G02B27/09
其他位置不包括的光束整形,例如改变横截面积
法律状态
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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