一种SIM卡槽测试测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种SIM卡槽测试测试治具，包括机体以及侧插机构，机体上设有定位治具，定位治具用于定位工件；侧插机构设于定位治具的一侧，包括仿形卡以及仿形卡驱动组件，所述仿形卡可在所述仿形卡驱动组件的带动下，向着靠近或者远离定位治具运动；所述仿形卡用于在向着靠近定位治具运动后插装至工件的槽位内。本实用新型的目的在于提供一种SIM卡槽测试测试治具，其可自动完成仿形卡与SIM卡槽插装，插装精度高，便于后期测试。
基本信息
专利标题 ：
一种SIM卡槽测试测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922219002.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN212008768U
授权日 ：
2020-11-24
发明人 ：
李伟东陈恩平杨进权牛安
申请人 ：
珠海博杰电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一楼-1、二、三、四楼
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
肖宇扬
优先权 ：
CN201922219002.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 G01R1/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-11-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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