一种CsI谱仪设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种CsI谱仪设备，所述CsI谱仪设备包括探头、多道分析器、数据采集分析处理装置，所述探头包括CsI(TI)晶体、光电倍增管、分压模块，所述分压模块与所述CsI(TI)晶体、光电倍增管和数据采集分析处理装置电性连接以提供电能，所述光电倍增管的一端与所述CsI(TI)晶体相连，所述多道分析器与所述数据采集分析处理装置电性连接以传输信号。本实用新型的CsI谱仪设备，可以用无人机等配合使用，能减少测量人员所受照射并极大的提高工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种CsI谱仪设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922264866.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-16
授权号 ：
CN211236261U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
李立强
申请人 ：
北京中航天业科技有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区实兴大街30号院西山汇17号楼6层30号
代理机构 ：
北京国谦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵慧敏
优先权 ：
CN201922264866.4
主分类号 ：
G01T1/36
IPC分类号 ：
G01T1/36 G01T1/202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
