一种敏感元件仓及其气密结构
授权
摘要
本实用新型提供了一种敏感元件仓及其气密结构，所述敏感元件仓可安装于危险物质检测设备中，包括基座和以第一间隔等间隔、并排设置在所述基座内的N个单元仓，其中，N为大于或等于2的整数。本实用新型提供的敏感元件仓及其气密结构通过等间隔设置多个单元仓，可以同时安装多个敏感元件，便于设备自动调节、更换，避免频繁进行人工整机拆装，提高用户体验感，保证设备的安装精度和气密性。
基本信息
专利标题 ：
一种敏感元件仓及其气密结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922285599.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211318164U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
黄健袁丁吴红彦夏征
申请人 ：
北京华泰诺安探测技术有限公司
申请人地址 ：
北京市顺义区空港融慧园20号楼2层20-2
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
李冬梅
优先权 ：
CN201922285599.9
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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