一种质子束流强度及截面测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及质子束流线测量技术领域，公开了一种质子束流强度及截面测量装置，包括真空室、束流管道，真空室的下部与束流管道的上部相接通，所述真空室的上方安装有气缸，气缸的活塞杆竖直向下，且活塞杆的下端固定连接有位于真空室或束流管道内腔的束流阻挡体、荧光靶片，气缸的活塞杆可分别带动束流阻挡体、荧光靶片移动至束流管道内质子束流截面的位置，本实用新型的测量装置能够在有限的空间内对质子回旋加速器束流线的质子束流强度及截面进行精确测量。
基本信息
专利标题 ：
一种质子束流强度及截面测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922293696.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211653162U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
温立鹏郑侠管锋平汪洋
申请人 ：
中国原子能科学研究院
申请人地址 ：
北京市房山区新镇北坊
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
卓凡
优先权 ：
CN201922293696.2
主分类号 ：
G01T1/34
IPC分类号 ：
G01T1/34 G01T1/29 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/34
测量截面，例如，测量粒子的吸收截面
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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