本实用新型涉及一种用于太赫兹探测器件的引线座，属于太赫兹探测技术领域。包括样品托和上盖，所述样品托上开设中心孔，所述中心孔内固定透镜，所述样品托上设置PCB板，所述透镜露出于PCB板，所述透镜上平面设有太赫兹探测器件，所述PCB板与太赫兹探测器件电连接，所述PCB板上设置接线柱，所述接线柱与测试电路电连接，所述上盖盖合于样品托。本申请利用样品托使得PCB板和超半球硅透镜集成设置，方便了太赫兹探测芯片的引线和封装，同时对太赫兹波进行了汇聚。PCB板上设置接线柱，在测试时，直接将测试电路与太赫兹芯片连接，进行太赫兹响应信号的收集。样品托和上盖的包裹结构起到屏蔽作用，可以有效保护太赫兹探测芯片，防止器件因静电而损坏。