一种提供高低温可控磁场的测试装置

授权

摘要

本实用新型适用于高低温磁场技术领域，提供了一种提供高低温可控磁场的测试装置，包括本体组件和用于保障本体组件内部环境温度的温度控制组件，所述本体组件包括外筒、内筒、超导线圈和测试装置，所述内筒位于所述外筒的内部，且所述内筒和所述外筒之间抽真空，所述内筒的内部设置超导线圈，通过设置两个所述内筒和所述测试装置，使得所述超导线圈通电后，两个所述内筒的中间形成垂直方向的磁场，由于所述测试装置位于两个所述内筒的中间，使得所述测试装置中的磁场更加集中。

基本信息

专利标题：

一种提供高低温可控磁场的测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922354938.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-24

授权号：

CN211786805U

授权日：

2020-10-27

发明人：

饶国光

申请人：

北京赛迪机电新技术开发公司

申请人地址：

北京市昌平区科技园区创新路11号2号楼328室

代理机构：

北京集智东方知识产权代理有限公司

代理人：

陈亚斌

优先权：

CN201922354938.4

主分类号：

G05D23/20

IPC分类号：

G05D23/20 G01R31/00