一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统，包括工业相机、同轴光源、辊筒一、辊筒二、测试台和电脑控制器，所述辊筒一、辊筒二设置在测试台上，所述圆柱形电子器件放置在辊筒一和辊筒二上方交接处，所述辊筒一、辊筒二分别连接有电机一和电机二，所述同轴光源设置在辊筒一、辊筒二上方，所述工业相机设置在同轴光源上方，所述工业相机、电机一、电机二均与电脑控制器连接。本实用新型可获取圆柱形电子器件侧面连续的平面图形进而进行分析检测，从而避免漏检的问题结构简单，可有效提高检测效率和检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种圆柱形电子器件外表面缺陷检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922358997.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-25
授权号 ：
CN211652585U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
邹逸
申请人 ：
无锡赛默斐视科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园G10-202
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陆滢炎
优先权 ：
CN201922358997.9
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892 G03B15/03
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN211652585U.PDF
PDF下载
