本实用新型公开了一种用于集成光电子器件表面缺陷检测装置，涉及集成光电子器件技术领域。该用于集成光电子器件表面缺陷检测装置，包括底座，所述底座的上方设置有顶板，底座的顶部焊接安装有导向杆，底座的顶部焊接安装有连接座，连接座和导向杆远离底座的一端和顶板固定连接，连接座的内部开设有第一滑槽，连接座的内部滑动安装有第一滑块，连接座的一侧开设有开口，顶板的下方设置有连接板，连接板横向贯穿开口并和第一滑块固定连接，连接板的底部通过电器元件焊接安装有照明灯，连接座的一侧设置有升降机构。本实用新型结构简单，便于操作，有利于工作人员检查工作，间接地增加了检测的质量，便于推广使用。