一种芯片检测装置的载具结构
授权
摘要
本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片检测装置的载具结构，包括载具本体，所述载具本体的上端设置有容置槽，所述载具本体的上端还设置有压片，所述压片包括连接部和遮挡部，所述遮挡部处设置有开槽；所述载具本体还设置有用于驱动压片转动的转轴，所述转轴的一端与压片的连接部连接，所述转轴的另一端连接有用于驱动转轴转动的第一驱动机构，本实用新型压片将安置槽的开口盖住并固定芯片，开槽的作用是便于CCD检测仪拍摄芯片，压片有利于芯片的固定，方便芯片的安全输送，避免输送时发生偏移，有利于CCD检测仪准确对芯片，提高一体化程度。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测装置的载具结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922450564.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211263154U
授权日 ：
2020-08-14
发明人 ：
薛昌武
申请人 ：
东莞市云芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市塘厦镇大坪社区沙苑一路8号B栋四楼
代理机构 ：
东莞科强知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
肖冬
优先权 ：
CN201922450564.6
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-08-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
