用于高精度温敏元件的调阻测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及电子元件制造技术领域，具体为一种用于高精度温敏元件的调阻测试装置，包括测阻电桥，所述测阻电桥包括依次连接的标准电阻、第一精密电阻、第二精密电阻，所述标准电阻和第二精密电阻之间设有连接位，所述连接位用于连接被测元件，使被测元件与标准电阻、第一精密电阻、第二精密电阻串联，所述标准电阻与被测元件之间设有第一测试端，所述第一精密电阻与第二精密电阻之间设有第二测试端，所述第一测试端与第二测试端之间连接有检测模块。采用本方案能够实时监控调阻，减少被测元件的加工时长，同时能够消除温度对被测元件测阻影响。
基本信息
专利标题 ：
用于高精度温敏元件的调阻测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922456468.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN212159935U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
胡轶
申请人 ：
重庆斯太宝科技有限公司
申请人地址 ：
重庆市北碚区蔡家岗镇嘉德大道99号3幢1号
代理机构 ：
重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈家辉
优先权 ：
CN201922456468.2
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R17/00 G01R15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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