一种探测器线性度测试系统光学元件保护装置
授权
摘要
一种探测器线性度测试系统光学元件保护装置光束成像切割装置，涉及光学元件保护技术领域，为了解决现有技术的问题，光学室由光学室侧板一、光学室侧板二、光学室上盖和光学室前板组成，光学滤光片在滤光片夹具内，滤光片夹具和探测器组件在光学室内；滤光片插槽由光学室侧板一、光学室侧板二及光学室上盖的四个凹槽分别对应构成，滤光片夹具放入滤光片插槽内；四个限位棒等间距固定在开关转轴上，其位置与四个滤光片插槽分别对应，限位板固定在开关转轴上，开关转轴两端由轴承固定在两个开关挡板之间，并在两个开关挡板之间自由地径向转动；两个对射光电开关经由两个L板固定在开关挡板上；光源室与光学室相对应。该装置防止滤光片产生碰撞。
基本信息
专利标题 ：
一种探测器线性度测试系统光学元件保护装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922462127.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211401624U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
张璐任建伟杨松
申请人 ：
吉林省远大光学检测技术有限公司
申请人地址 ：
吉林省长春市净月开发区天普路1550号泰豪深蓝国际4号楼401、402室
代理机构 ：
北京中理通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘慧宇
优先权 ：
CN201922462127.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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