一种用于TKD表征测试的样品夹具
授权
摘要
本实用新型属于微观表征领域，具体涉及一种用于TKD表征测试的样品夹具。包括压块和基台，所述压块和基台的横截面均为直角梯形，压块和基台的长底相接触，压块和基台的锐角端用于夹持；通过凹槽将压块分为夹持部和固定部，凹槽的深度压块的高度，夹持部分为多个，夹持部和固定部均通过紧固螺钉与基台连接。本夹具通过物理固定的方法，将TKD薄试样稳固地固定于夹具体的压块与基台之间，避免因为导电胶的伸缩变形以及导电性能不理想使试样移动和图像漂移。
基本信息
专利标题 ：
一种用于TKD表征测试的样品夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922462390.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN212540193U
授权日 ：
2021-02-12
发明人 ：
赵永好刘思路徐笑笑郝肖杰顾雷
申请人 ：
南京理工大学
申请人地址 ：
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 ：
南京理工大学专利中心
代理人 ：
张玲
优先权 ：
CN201922462390.5
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-02-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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