一种磁光性能研究用测试装置
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摘要

本实用新型涉及磁光材料技术领域,特别涉及一种磁光性能研究用测试装置,该装置包括间隔设置的第一电极机构和第二电极机构,第一电极机构和第二电极机构之间具有形成磁场的容纳空间,在该容纳空间内设置有测试组合机构;测试组合机构包括测试基座,测试基座上具有耦合光纤探头、反射镜和非球面镜,耦合光纤探头、反射镜和非球面镜呈品字形布置,并且形成由耦合光纤探头引出经反射镜反射后到达非球面镜的光路,在非球面镜的外侧位于光路射出侧设置有承载样品的样品托。该装置置于磁场中后可以通过调整承载基座与旋转基座的相对角度,从而带动承载基座上的样品与磁力线产生夹角,进而配合光纤探头的激发对样品进行了磁光性能的研究。

基本信息
专利标题 :
一种磁光性能研究用测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922478088.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN212059910U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
贾红常莎莎王洁刘纪玲赵建果
申请人 :
洛阳师范学院
申请人地址 :
河南省洛阳市伊滨区吉庆路6号
代理机构 :
杭州知见专利代理有限公司
代理人 :
单燕君
优先权 :
CN201922478088.9
主分类号 :
G01N21/63
IPC分类号 :
G01N21/63  G01N21/17  G01N27/72  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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