双频金属探雷器测试结构

授权

摘要

本实用新型提供了一种双频金属探雷器测试结构，包括：计算机；测试设备：与所述计算机的RS232口以及被测双频金属探雷器电连接；滑动升降装置：与所述计算机的RS232口电连接，并与一储物盒驱动连接，驱动所述储物盒横向滑动以及纵向升降；平衡可调支架：设置于所述滑动升降装置的横向滑动路径下方，用于放置和调平被测双频金属探雷器。通过本实用新型可以大大简化双频金属探雷器测试工作，只需一个人即可完成测试。同时本实用新型结构简单，采用现有的测试设备即可实现。

基本信息

专利标题：

双频金属探雷器测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922480893.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-31

授权号：

CN211348653U

授权日：

2020-08-25

发明人：

杜涛何盛飞毛建勇丁浩丁晓兵张小波王文伟张胜杰杜文武

申请人：

上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所）

申请人地址：

上海市普陀区武宁路423号

代理机构：

上海段和段律师事务所

代理人：

李佳俊

优先权：

CN201922480893.5

主分类号：

G01V3/11

IPC分类号：

G01V3/11