一种线扫式光学检测机
授权
摘要
本实用新型公开了一种线扫式光学检测机，包括底板、底滑轨、竖向调节机构、横向调节机构和光学检测机本体，所述底板的上端安装有底滑轨，所述底滑轨的上端设置竖向调节机构，所述竖向调节机构包括竖向丝杆板、第一滚珠丝杆、第一丝杆轴承、第一丝杆电机、第一丝杆螺母和竖向滑动板，所述竖向丝杆板的中间设置有第一滚珠丝杆，所述第一滚珠丝杆的底端与安装在竖向丝杆板底端的第一丝杆轴承转动连接，所述第一滚珠丝杆的上端与安装在竖向丝杆板顶端的第一丝杆电机的转轴固定连接，所述第一滚珠丝杆上安装有第一丝杆螺母。本实用新型通过设置底滑轨、竖向调节机构和横向调节机构，解决了现有的技术调节不便，使用不便的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种线扫式光学检测机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922491123.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN211553791U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
张志银王芳芳
申请人 ：
东莞市精致自动化科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市寮步镇横坑横东二路5号3号楼401室
代理机构 ：
广州高炬知识产权代理有限公司
代理人 ：
伍丹峰
优先权 ：
CN201922491123.0
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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