一种高精度频谱校正方法
授权
摘要
本申请公开了一种高精度频谱校正方法，基于最大旁瓣衰减窗函数的临近频谱间的比例特性，将加权信号频谱实部和虚部拆分，仍能够分别进行三点插值计算。在得到实部和虚部两个归一化频率估计后再采用“数学平均”方式，这里处理方式经验证能够完全消除共轭负频率的泄露干扰，使得算法能够在任意采样窗口长度下实现高精度频偏估计。本发明提供的算法能够完全消除共轭负频率频谱泄露干扰，使得改进后的三点插值算法在任意采样窗口下实现高精度频谱校正。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度频谱校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111257815A
申请号 ：
CN202010150163.3
公开（公告）日 ：
2020-06-09
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN111257815B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
李波罗永睦张林山周年荣曹敏王浩杨超付志红赖强朱全聪利佳邹京希
申请人 ：
云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请人地址 ：
云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
逯长明
优先权 ：
CN202010150163.3
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G01R23/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-07-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20200306
申请日 : 20200306
2020-06-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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