一种用于光电系统的高精度光轴校正方法
实质审查的生效
摘要

本发明一种用于光电系统的高精度光轴校正方法,属于光电技术领域;包括光轴指向误差源分析,模型构建,数据测量,误差参数辨识以及光轴指向参数校正。光轴误差源包括光轴晃动误差、图像处理误差、轴系回转误差、垂直度误差、角度传感器测量误差、角度传感器零位误差;通过对影响光轴指向的6个误差参数化建模,根据相关测量数据进行误差参数辨识,进而修正光电系统光轴指向。本发明提供准确的光轴指向模型,通过软件方式对光轴进行修正,使用灵活方便、降低设计成本、缩短研制周期、显著提高指向精度。

基本信息
专利标题 :
一种用于光电系统的高精度光轴校正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114370846A
申请号 :
CN202111167030.8
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-10-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
崔鑫磊葛云鹏
申请人 :
中航洛阳光电技术有限公司
申请人地址 :
河南省洛阳市凯旋西路25号
代理机构 :
西北工业大学专利中心
代理人 :
云燕春
优先权 :
CN202111167030.8
主分类号 :
G01C1/00
IPC分类号 :
G01C1/00  G06F17/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C1/00
测量角度
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 1/00
申请日 : 20211001
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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