高精度多光轴一致性测量系统
授权
摘要
本实用新型涉及多光轴一致性测量，具体涉及一种高精度多光轴一致性测量系统。本实用新型的目的是解决现有多光轴一致性测量系统存在无法建立高精度测量基准、难以进行兼顾激光发射光轴、激光接收光轴、可见光光轴、红外光轴的多光轴一致性测量的技术问题，提供一种高精度多光轴一致性测量系统。该系统包括平行光管组件、焦点组件、取样镜组件、长焦自准直光管组件；平行光管组件包括离轴抛物面镜和折轴镜；取样镜组件包括第一取样镜和第二取样镜，第二取样镜为半透半反镜；长焦自准直光管组件包括会聚镜头、分光镜、CCD探测器、第二十字靶、面阵光源。
基本信息
专利标题 ：
高精度多光轴一致性测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020626892.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-23
授权号 ：
CN211954621U
授权日 ：
2020-11-17
发明人 ：
张玺斌赵建科徐亮刘峰高立民李晓辉李朝辉午建军刘勇
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王杨洋
优先权 ：
CN202020626892.7
主分类号 ：
G01M11/04
IPC分类号 ：
G01M11/04 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/04
••其光学实验台
法律状态
2020-11-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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