高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统

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摘要

本实用新型涉及激光测距机，具体涉及一种基于散射取样的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统。本实用新型的目的是解决现有高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统存在对于宽谱段激光光轴一致性测量使用受限的技术问题，提供一种高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统。该系统包括离轴抛物面镜、折轴镜、毛玻璃、取样镜、会聚透镜、CCD探测器、模拟激光器和靶标切换导轨；折轴镜和毛玻璃依次设置于离轴抛物面镜的会聚光路上；取样镜、会聚透镜和CCD探测器依次设置于离轴抛物面镜的准直光路上；模拟激光器和所述毛玻璃均设置于所述靶标切换导轨上，所述靶标切换导轨通过经折轴镜反射的离轴抛物面镜焦点处。

基本信息

专利标题：

高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020625854.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-23

授权号：

CN211954620U

授权日：

2020-11-17

发明人：

张玺斌赵建科徐亮刘峰康晓鹏李朝辉李晓辉午建军魏紫薇

申请人：

中国科学院西安光学精密机械研究所

申请人地址：

陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司

代理人：

王杨洋

优先权：

CN202020625854.X

主分类号：

G01M11/04

IPC分类号：

G01M11/04 G01M11/02