光学环扫超宽幅成像模式设计方法
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摘要

本发明涉及光学环扫超宽幅成像模式设计方法。包括以下步骤:设计相机光轴与整星对地轴之间的夹角γ;设计快旋模式下卫星的自旋角速度ωfast;若相机在当前角速度下能够清晰成像,则进行步骤三;否则进行步骤四;设计一个快旋周期Tfast内相机的开关机时刻ton、toff;设计慢旋模式下卫星的自旋角速度ωslow;设计一个慢旋周期Tslow内相机的开关机时刻ton1、toff1、ton2、toff2;设计变转速自旋模式下相机开机时刻的相位角θ0和开机时长τ1;设计相机关机时的卫星自旋角速度方程;若卫星能够稳定地跟踪该方程,则采用变转速自旋模式;否则采用步骤五设计的慢旋模式。本发明提出了三种不同的环扫成像模式,每种成像模式可确保环扫条带拼接的完整性;降低成像任务对卫星的处理能力、存储能力、数传能力的要求。

基本信息
专利标题 :
光学环扫超宽幅成像模式设计方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111366136A
申请号 :
CN202010158705.1
公开(公告)日 :
2020-07-03
申请日 :
2020-03-09
授权号 :
CN111366136B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
王峰奚瑞辰岳程斐李化义曹喜滨
申请人 :
哈尔滨工业大学
申请人地址 :
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 :
哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
代理人 :
刘景祥
优先权 :
CN202010158705.1
主分类号 :
G01C11/02
IPC分类号 :
G01C11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C11/00
摄影测量学或视频测量学,例如,立体摄影测量学;摄影测量术
G01C11/02
专门用于摄影测量学或摄影测量术的照相装置,例如控制照片重叠的装置
法律状态
2022-06-03 :
授权
2020-07-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 11/02
申请日 : 20200309
2020-07-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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