一种基于小偏摆的三平面参考镜平面度绝对测量方法
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摘要

本发明涉及一种基于小偏摆的三平面参考镜平面度绝对测量方法。先将两块参考镜分别固定在干涉仪和参考镜支架上,调节多维调整机构以保证两块参考镜每个点相互对应。通过分别置换三块参考镜的位置可以采集两两参考镜之间的混合面型误差,再利用简单的几何关系计算得到三块参考镜在y轴线上的相位误差。事实上混合的面形误差包含大量冗余的信息,为了得到这些信息,在一次的测量过程中对待测参考镜分别顺时针和逆时针绕垂直于光轴方向小幅度旋转,得到带有倾斜相差的条纹图,并对其解析得到畸变相位。按照流程图,最终得到两块参考镜的高分辨率的完整面形信息。并可以简单求解第三块参考镜的面形。

基本信息
专利标题 :
一种基于小偏摆的三平面参考镜平面度绝对测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111238422A
申请号 :
CN202010177349.8
公开(公告)日 :
2020-06-05
申请日 :
2020-03-13
授权号 :
CN111238422B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
林星羽陈鼎夫于瀛洁
申请人 :
上海大学
申请人地址 :
上海市宝山区上大路99号
代理机构 :
上海上大专利事务所(普通合伙)
代理人 :
何文欣
优先权 :
CN202010177349.8
主分类号 :
G01B11/30
IPC分类号 :
G01B11/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2022-06-14 :
授权
2020-08-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/30
申请日 : 20200313
2020-06-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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