超声反射性能检测系统和方法
授权
摘要
本申请公开了一种超声反射性能检测系统和方法，用于测试电子设备的超声性能，该超声反射性能检测系统包括：密闭箱体；运动导轨，设置于所述密闭箱体中；反射部件，滑动连接于所述运动导轨；其中，所述电子设备和所述反射部件分别位于所述运动导轨的两端，在所述电子设备与所述反射部件相互靠近的过程中，所述电子设备发射的超声波信号经所述反射部件的反射，被所述电子设备接收。利用本申请提供的检测系统能够提高超声检测精度。
基本信息
专利标题 ：
超声反射性能检测系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111443254A
申请号 ：
CN202010313710.5
公开（公告）日 ：
2020-07-24
申请日 ：
2020-04-20
授权号 ：
CN111443254B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
兰晓东
申请人 ：
维沃移动通信有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市长安镇乌沙步步高大道283号
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
彭琼
优先权 ：
CN202010313710.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01N29/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-08-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20200420
申请日 : 20200420
2020-07-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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