基于量子点荧光延时的紫外/可见光信号探测系统及方法
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摘要
本发明公开了基于量子点荧光延时的紫外/可见光信号探测系统及方法，属于基本电气元件的技术领域。系统包含封装外壳和依次设置的变焦透镜组、带有外围转速可调的斩波片、涂敷有具有荧光延时的量子点储能片、成像光学光斑大小调节系统、斩波片和CCD相连的外围同步触发电路、可见光CCD探测器、可见光CCD探测器相连的图像信号处理单元。本发明通过掺杂量子点实现紫外信号的光谱转换实现紫外信号的探测，通过外部同步触发电路实现紫外/可见信号的分时输出，通过后期的图像处理单元融合原本空间上被分离的时间序列信号，实现信息的再现，与现有技术相比，具有结构简、性能稳定、易于加工、可移植性强、成本较低等特点。
基本信息
专利标题 ：
基于量子点荧光延时的紫外/可见光信号探测系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111579064A
申请号 ：
CN202010337898.7
公开（公告）日 ：
2020-08-25
申请日 ：
2020-04-26
授权号 ：
CN111579064B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
张家雨任朝阳陈埇稷
申请人 ：
东南大学
申请人地址 ：
江苏省南京市玄武区四牌楼2号
代理机构 ：
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 ：
熊玉玮
优先权 ：
CN202010337898.7
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2020-09-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/42
申请日 : 20200426
申请日 : 20200426
2020-08-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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