金刚石盘的监控方法及系统
授权
摘要

本申请公开了一种金刚石盘的监控系统及方法,涉及半导体制造领域。该监控系统包括至少包括金刚石盘检测传感器、信号转换模块、金刚石盘信号采集电路、运动控制器、中控系统、研磨盘调节器驱动系;金刚石盘检测传感器设置在研磨盘的外侧且与金刚石盘的初始位置相邻,金刚石盘上设置有检测标记,金刚石盘检测传感器根据工作指令发射检测信号,接收由金刚石盘反射回的反馈信号;将反馈信号发送至中控系统,中控系统根据反馈信号确定金刚石盘的运行状态信息;解决了目前金刚石盘的实际运行状态不能及时反馈的问题;达到了实时获取金刚石盘的运行状态,防止金刚石盘运行过程中出现异常无法及时发现,有助于优化对研磨盘上研磨垫的处理的效果。

基本信息
专利标题 :
金刚石盘的监控方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111515864A
申请号 :
CN202010364820.4
公开(公告)日 :
2020-08-11
申请日 :
2020-04-30
授权号 :
CN111515864B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
梁金娥李松张超逸邢中豪
申请人 :
华虹半导体(无锡)有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区新洲路30号
代理机构 :
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 :
罗雅文
优先权 :
CN202010364820.4
主分类号 :
B24B53/017
IPC分类号 :
B24B53/017  B24B37/005  B24B49/00  
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B53/00
用于修整或调节研磨表面的装置或工具、
B24B53/017
用于修整、清洁或者调节研具的设备或装置
法律状态
2022-04-05 :
授权
2020-09-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 53/017
申请日 : 20200430
2020-08-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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