测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法
授权
摘要

本发明提供一种测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法。一种测定测头的不良状况判定单元,该测定测头具备:测针,其具有与被测定物接触的接触部;四个检测元件,其能够检测接触部的移动;以及信号处理部,其对从四个检测元件的输出获得的生成信号进行处理,来输出触碰信号,该测定测头的不良状况判定单元具备:不良状况判定部,其在被测定物不与接触部接触的状态下,将与生成信号对应的四个判定信号同规定的阈值进行比较,如果任一个判定信号大于规定的阈值,则判定为存在不良状况;以及判定结果输出部,其输出不良状况判定部的判定结果。由此,能够通过简单的结构来确保测定的可靠性。

基本信息
专利标题 :
测定测头的不良状况判定单元及其不良状况判定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112050765A
申请号 :
CN202010506921.0
公开(公告)日 :
2020-12-08
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN112050765B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
斋藤章宪古贺聪金森宏之
申请人 :
株式会社三丰
申请人地址 :
日本神奈川县
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN202010506921.0
主分类号 :
G01B21/04
IPC分类号 :
G01B21/04  G01B5/016  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/04
通过测量各点的坐标
法律状态
2022-05-27 :
授权
2020-12-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/04
申请日 : 20200605
2020-12-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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