微粒测定系统、计测装置
实质审查的生效
摘要
纳米孔设备(100)具有细孔(104)及电极对(106、108)。电流测定部(202)将与电压设定指令(SET_V)对应的偏压电压(Vb)向电极对(106、108)之间施加，并且生成与流过纳米孔设备(100)的电流信号(Is)对应的数字的电流数据(DATA_I)。数据处理装置(300)生成电压设定指令(SET_V)，并且，将电流数据(DATA_I)和包含与偏压电压(Vb)的波形相关的信息在内的电压数据(DATA_V)以在时间轴上建立起关联的形式获取，基于电流数据(DATA_I)和电压数据(DATA_V)，判定收容于纳米孔设备(100)的粒子的种类。
基本信息
专利标题 ：
微粒测定系统、计测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556083A
申请号 ：
CN202180005845.8
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佐藤浩鹫津信荣
申请人 ：
株式会社爱德万测试
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄志华
优先权 ：
CN202180005845.8
主分类号 ：
G01N15/10
IPC分类号 ：
G01N15/10 G01N15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/10
申请日 : 20210126
申请日 : 20210126
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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