一种宽带虚部束流耦合阻抗测量系统及方法
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摘要
本发明涉及一种宽带虚部束流耦合阻抗测量系统及方法，其特征在于，包括单丝、双丝、参考件、耦合天线、矢量网络分析仪、差模耦合天线、四端口微波电桥和射频负载；单丝分别设置在待测件和参考件内，单丝一端开路，单丝另一端与耦合天线一端连接形成弱耦合，耦合天线另一端连接矢量网络分析仪构成纵向宽带虚部阻抗测量系统；双丝分别设置在待测件和参考件内，双丝一端开路，双丝另一端与差模耦合天线一端连接形成弱耦合，差模耦合天线另一端连接四端口微波电桥的两端口，四端口微波电桥一端口经射频负载接地，四端口微波电桥另一端口连接矢量网络分析仪构成横向宽带虚部阻抗测量系统，本发明可以广泛应用于环形加速器领域中。
基本信息
专利标题 ：
一种宽带虚部束流耦合阻抗测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111796319A
申请号 ：
CN202010677571.4
公开（公告）日 ：
2020-10-20
申请日 ：
2020-07-14
授权号 ：
CN111796319B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
朱光宇武军霞刘杰杜泽张雍尹佳宿建军
申请人 ：
中国科学院近代物理研究所
申请人地址 ：
甘肃省兰州市城关区南昌路509号
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
王胥慧
优先权 ：
CN202010677571.4
主分类号 ：
G01T1/29
IPC分类号 ：
G01T1/29 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-11-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/29
申请日 : 20200714
申请日 : 20200714
2020-10-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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