具有测试接口的存储装置
授权
摘要
本申请涉及一种具有测试接口的存储装置。一种实例系统包括：主总线，其电耦合到由测试模式信号控制的主多路复用器，以在主物理接口PHY与多个从总线中的一个从总线之间进行选择，其中每一从总线电耦合到由所述测试模式信号控制的相应从多路复用器，以在相应从PHY与所述主总线之间进行选择；多个存储器组件，其中所述多个存储器组件中的每一存储器组件电耦合到以下各项中的一者：所述主总线或所述多个从总线中的一个从总线；以及存储器测试接口，其电耦合到所述主总线。
基本信息
专利标题 ：
具有测试接口的存储装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112242176A
申请号 ：
CN202010694237.X
公开（公告）日 ：
2021-01-19
申请日 ：
2020-07-17
授权号 ：
CN112242176B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
S·汉纳
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202010694237.X
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42 G11C29/44 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2021-02-05 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20200717
申请日 : 20200717
2021-01-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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