测量方法及装置、电子设备及存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种测量方法及装置、电子设备及存储介质。所述方法应用于终端，所述终端包括二维摄像头和深度摄像头，所述方法包括：使用所述二维摄像头对待测量物体进行拍摄得到二维图像，并使用所述深度摄像头对所述待测量物体进行拍摄得到所述二维图像的深度图；获取所述二维摄像头得到所述二维图像的拍摄角度；依据所述拍摄角度、所述二维图像和所述深度图，得到所述待测量物体的高度。
基本信息
专利标题 ：
测量方法及装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112197708A
申请号 ：
CN202010901189.7
公开（公告）日 ：
2021-01-08
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN112197708B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
薛地周杨
申请人 ：
深圳市慧鲤科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
熊永强
优先权 ：
CN202010901189.7
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01B11/06 G01B11/22
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2021-01-26 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20200831
申请日 : 20200831
2021-01-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN112197708A.PDF
PDF下载
