一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法
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摘要
本发明涉及一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法，属于图像处理领域。包括：(1)相机标定，得到相机的内外参数；(2)对CCD工业相机采集到的图片进行滤波处理及边缘提取，得到条纹的像素宽度，粗提取条纹的像素中心线；(3)对于步骤(1)中获得的相机内外参数和步骤(2)中得到的条纹像素宽度，计算条纹的世界坐标宽度和激光器照射到物体上的光斑中心的世界坐标，然后计算激光器发射的光平面交点的世界坐标；(4)得到系统空间结构约束中的中心线偏移量e，并求偏移系数k；(5)求得条纹中心线的图像坐标，并转化为三维坐标用于误差检测。本发明适用于投射发散型多线激光条纹的三维视觉测量系统的中心线条纹的提取。
基本信息
专利标题 ：
一种基于结构约束的多线结构光系统条纹中心线提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112116619A
申请号 ：
CN202010973290.3
公开（公告）日 ：
2020-12-22
申请日 ：
2020-09-16
授权号 ：
CN112116619B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
李文国毛雪忆罗子欣侯大猛
申请人 ：
昆明理工大学
申请人地址 ：
云南省昆明市五华区学府路253号
代理机构 ：
昆明明润知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马海红
优先权 ：
CN202010973290.3
主分类号 ：
G06T7/13
IPC分类号 ：
G06T7/13 G06T7/66 G06T7/80 G06T5/00 G06F17/11
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
G06T5/50
通过使用多于一幅图像的，例如平均、减少
G06T7/13
边缘检测
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2021-01-08 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/13
申请日 : 20200916
申请日 : 20200916
2020-12-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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