一种提取相干梯度敏感干涉条纹级数的方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种提取相干梯度敏感干涉条纹级数的方法，属于断裂力学参量测量的技术领域。首先在未加载前，对试件进行拍摄，得到干涉条纹图的背景光强a；分别拍摄该试件在载荷P₁、P₂下的两幅相干梯度敏感干涉条纹图，拍摄得到的第一幅和第二幅干涉条纹图的光强分别为：I₁、I₂；根据载荷和光强，计算第一幅干涉条纹图的条纹级数m₁。本发明方法的优点是能够明显提高相干梯度敏感方法的计算精度，尤其是对于低级数条纹点的计算结果；方法简单，不需要已有技术以外的光学装置；可与同次断裂实验中其它任意载荷的条纹图进行相应处理提取条纹级数。

基本信息

专利标题：

一种提取相干梯度敏感干涉条纹级数的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1800834A

申请号：

CN200610001365.1

公开（公告）日：

2006-07-12

申请日：

2006-01-20

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

许蔚姚学锋刘栋梁

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084北京市海淀区清华园

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所

代理人：

罗文群

优先权：

CN200610001365.1

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88 G01J3/45 G01B11/16