一种结构光条纹中心快速高精度提取方法
专利权的终止
摘要
本发明属于测量技术，涉及对结构光条纹中心提取方法的改进。其步骤是：将图像z(x，y)与微分形式的高斯核卷积，分别得到rx，ry，rxx，rxy，ryy；利用高斯函数的可分离性，将对图像的二维卷积转化为一维卷积；利用递归方法实现高斯一维卷积；求解Hessian矩阵的特征值和特征向量，得到线条的法线方向(nx，ny)；根据泰勒展开求解光条纹中心的亚像素坐标。本发明在不牺牲精度和鲁棒性的前提条件下，大大减小了运算量，实现了结构光条纹中心线的快速提取，为算法的实时应用奠定了基础。
基本信息
专利标题 ：
一种结构光条纹中心快速高精度提取方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1763472A
申请号 ：
CN200510123724.6
公开（公告）日 ：
2006-04-26
申请日 ：
2005-11-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
周富强张广军江洁胡坤
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
100083北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
中国航空专利中心
代理人 ：
梁瑞林
优先权 ：
CN200510123724.6
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G06T17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2013-01-23 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101384117736
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2005101237246
申请日 : 20051122
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20111122
号牌文件序号 : 101384117736
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2005101237246
申请日 : 20051122
授权公告日 : 20090527
终止日期 : 20111122
2009-05-27 ：
授权
2008-01-02 ：
实质审查的生效
2006-04-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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