一种基于激光位移传感器的齿轮偏置测量方法
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摘要

本发明公开了齿轮测量技术领域内的一种基于激光位移传感器的齿轮偏置测量方法,包括以下步骤:(1)驱动激光位移传感器沿导轨运动,标定被测齿轮中心轴位置;(2)安装被测齿轮,驱动激光位移传感器沿Z轴导轨运动到齿廓待测量的位置,设置偏置量,驱动激光位移传感器移动使激光束直射到被测齿廓上;(3)驱动工件回转台沿单侧齿面渐开线展开方向反转,采集光束在被测齿廓上投射点相对测量齿轮坐标系中心轴的位移数据;(4)设置新偏置量,使激光位移传感器偏置到齿轮另一侧,沿齿轮另一侧齿面渐开线展开方向旋转工件回转台,采集在被测齿廓上投射点的位移数据;(5)将两次测量的位移数据转化为极坐标;使用本发明测量精度高。

基本信息
专利标题 :
一种基于激光位移传感器的齿轮偏置测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112254667A
申请号 :
CN202011049124.0
公开(公告)日 :
2021-01-22
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN112254667B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
宋爱平梅宁于晨伟卢重望潘建州
申请人 :
扬州大学
申请人地址 :
江苏省扬州市开发区大学南路88号
代理机构 :
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 :
董旭东
优先权 :
CN202011049124.0
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24  G01B11/25  G01B11/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-02-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20200929
2021-01-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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