基于激光位移传感器的齿轮角度偏置测量装置及测量方法
授权
摘要
本发明公开了齿轮测量技术领域内的基于激光位移传感器的齿轮角度偏置测量装置及测量方法,测量装置包括工作台,工作台上设有工件回转台和二坐标平移机构,二坐标平移机构包括固定在工作台上侧的X轴导轨,工件回转台上垂直设有中心定位芯轴,X轴导轨上可滑动地连接有Y轴导轨,Y轴导轨上可滑动地连接有升降架,升降架上连接有激光位移传感器,X轴导轨中心平面过工件回转台中心,激光位移传感器底座为可调角度的分度盘,通过调节分度盘,改变激光束相对于齿轮中心的位置进行偏置测量;本发明可以实现复杂齿轮的测量,测量过程中齿面数据无波动,精度好。
基本信息
专利标题 :
基于激光位移传感器的齿轮角度偏置测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112378345A
申请号 :
CN202011051979.7
公开(公告)日 :
2021-02-19
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
CN112378345B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
宋爱平梅宁于晨伟卢重望潘建州
申请人 :
扬州大学
申请人地址 :
江苏省扬州市开发区大学南路88号
代理机构 :
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 :
董旭东
优先权 :
CN202011051979.7
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24 G01B11/25 G01B11/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-03-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20200929
申请日 : 20200929
2021-02-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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