一种激光相位光栅干涉位移传感器
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

一种激光相位光栅干涉位移传感器,包括半导体激光器、平行弹簧、透射光栅、±1级平面反射镜、分光棱镜、干涉光平面反射镜、扩束透镜、光电接收器和信号处理电路。激光器和透射光栅分别固定于平行弹簧的前、后支架;连杆与平行弹簧的后支架下端部连接,并通过触球与测杆相连,测杆安装在轴承上,探针固定在测杆的另一端;激光器发出的光束依次经过透射光栅、平面反射镜、分光棱镜产生干涉条纹,干涉条纹经透镜扩束后由光电接收器接收,并将光信号转化为电信号,再传送给信号处理电路处理后输出。本实用新型具有测量范围大、测量精度高、结构简单、成本低的特点。该传感器可用于测量工件的表面轮廓和表面粗糙度,测量范围为0~3mm、分辨率可达6nm。

基本信息
专利标题 :
一种激光相位光栅干涉位移传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720088830.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-07
授权号 :
CN201130030Y
授权日 :
2008-10-08
发明人 :
王生怀王淑珍常素萍谢铁邦
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
430074湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
华中科技大学专利中心
代理人 :
曹葆青
优先权 :
CN200720088830.X
主分类号 :
G01D5/38
IPC分类号 :
G01D5/38  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置;将传感构件的输出变换成不同变量的装置,其中传感构件的形式和特性不限制变换装置;非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置,即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/32
利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞
G01D5/34
利用光电元件检测光束
G01D5/36
将光线形成脉冲
G01D5/38
用衍射光栅
法律状态
2009-09-09 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2007127
2008-10-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201130030Y.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332