一种利用激光干涉测量位移的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种利用激光干涉测量位移的装置，涉及位移测量技术领域，包括壳体，所述壳体的内底壁固定连接有光波接收分析仪，所述壳体的内底壁固定连接有下固定座，所述壳体的内顶壁固定连接有上固定座，所述壳体的右侧面固定镶嵌有回光滤镜和射光滤镜，所述壳体的内部设有分光镜，所述分光镜的顶端与上固定座的底面固定连接，所述分光镜的底端与下固定座的上表面固定连接，所述壳体的上表面固定镶嵌有第一转筒，所述第一转筒的顶部设有转动轮，所述转动轮的底面固定连接有第二转筒，所述第二转筒的底端与第一转筒内侧壁相接触，所述第二转筒的内侧壁固定连接有直角圆锥镜。本实用新型具备在装置固定情况下对倾斜目标测量的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种利用激光干涉测量位移的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920602271.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-29
授权号 ：
CN209945261U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
肖建平毛黎明
申请人 ：
江西正沃信息科技有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市南昌高新技术产业开发区火炬五路899高航大厦
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郑自群
优先权 ：
CN201920602271.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN209945261U.PDF
PDF下载
