一种利用激光进行微位移测量的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种利用激光进行微位移测量的装置，涉及测量技术领域，包括测量设备，所述测量设备的下端连接有固定座，所述固定座的两侧均连接有连接板，所述测量设备的一侧设置有激光发射器，在所述激光发射器的下方设置有CCD相机，本设计通过调整限位柱在不同限位块之间的位置，能够根据被测物体位移角度，及时调节测量设备的测量角度，无需拆卸，使得测量设备的检测角度始终可以与被测物体角度保持一致，并通过在底板的两侧均通过三个连接螺杆连接有连接板，连接板的表面均开设有两个安装孔用于安装在固定支架上，且在底板的两侧均开设有相对应的螺纹孔，使得固定座能够安装于不同尺寸固定支架的表面，操作简捷。
基本信息
专利标题 ：
一种利用激光进行微位移测量的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122776782.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216432851U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
朱任玉范剑英
申请人 ：
哈尔滨理工大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122776782.6
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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