一种基于能谱仪的测点定位装置、能谱测试系统及测试方法
实质审查的生效
摘要

本申请涉及石油地质勘探测试装置领域,特别地涉及一种基于能谱仪的测点定位装置、能谱测试系统及测试方法。本申请实施例提供的基于能谱仪的测点定位装置,包括能谱探头调节装置以及测点定位装置。通过能谱探头调节装置的第一调节件可选择地调节所述连接件的角度使能谱探头捕捉到载物台上兴趣能谱束斑,通过所述测点定位装置的第二调节件可选择地调节所述平面反射镜以调整入射光斑与兴趣能谱束斑重合。本申请提供的基于能谱仪的测点定位装置,能够实现目标测点准确高效的对准能谱束斑照射范围,最大程度保证分析样品的原位性。同时,针对不同矿物厚度对束斑偏移的影响,可对应地调控束斑位置。

基本信息
专利标题 :
一种基于能谱仪的测点定位装置、能谱测试系统及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428093A
申请号 :
CN202011049299.1
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-09-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张隽王杰俞凌杰鲍芳芮小庆
申请人 :
中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
申请人地址 :
北京市朝阳区朝阳门北大街22号
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN202011049299.1
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  G01N23/2208  G01N23/2273  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2204
申请日 : 20200929
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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