本发明涉及一种半导体激光器用COS波长测试装置及测试方法，属于激光器测试技术领域，包括热沉底座和测试架，热沉底座位于测试架下方，测试架上设置有测试针，测试针与测试架之间通过位移结构连接，测试架一侧设有积分球；热沉底座上设有带芯片热沉，利用测试针的位移对多个带芯片热沉进行扎测，本发明解决了半导体激光器用COS波长无法自动测试的问题，解决了手动模式下一人只能用一台设备的问题，现在设备十几台可以一人完成操作，节约大量的人工，而且通过驱动电机控制热沉底座动作，提高了产COS波长测试的一致性。