一种激光器芯片波长及功率两用测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种激光器芯片波长及功率两用测试装置，包括测试芯片、底座、支撑平台、上电单元、滑台、耦合单元和功率计量单元；底座相对于地面固定设置；支撑平台固定设置在底座远离地面的端面上；测试芯片放置在支撑平台远离地面的一端方向，测试芯片上间隔设置的有两电极；上电单元远离地面的一端还分别与测试芯片的两个电极电性连接；测试芯片的侧表面设置有出光口；滑台设置在测试芯片出光口所在方向的底座上并与底座固定连接；耦合单元和功率计量单元均设置在滑台上，耦合单元或者功率计量单元可沿着滑台的水平延伸方向移动，并使耦合单元的检测部或者功率计量单元的检测部正对测试芯片出光口。
基本信息
专利标题 ：
一种激光器芯片波长及功率两用测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122628210.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
CN216285584U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
魏立权王良恒宋梦芹李昊李芝顺向远鹏石昊
申请人 ：
武汉高跃科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳大道52号凤凰产业园(武汉·中国光谷文化创意产业园)E地块10幢3层(2)厂房
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李杰梅
优先权 ：
CN202122628210.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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