一种功率因数芯片测试电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种功率因数芯片测试电路，包括两个驱动电路，功率因数芯片的驱动输出端CDA连接第一驱动电路的输入端，第一驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDA端，功率因数芯片的驱动输出端CDB连接第二驱动电路的输入端，第二驱动电路的输出端连接功率因数芯片的ZCDB端。本申请采用芯片自身的输出信号作为输入信号，满足对输入信号的相位要求，简化了外围电路；采用弱电信号对功率因数芯片进行测试，克服了强电测试时带来的危险与损坏，增加了安全性，提高了效益。
基本信息
专利标题 ：
一种功率因数芯片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921412250.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-28
授权号 ：
CN211206619U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
冯世龙
申请人 ：
北京金晟达生物电子科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区科技园区创新路27号2号楼2层（昌平示范区）
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
刘乾帮
优先权 ：
CN201921412250.0
主分类号 ：
G01R21/00
IPC分类号 ：
G01R21/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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