基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置,该方法包括:确定目的层的位置、地震波到达目的层顶部的时间,以及地震波到达目的层底部的时间;根据测井资料,确定薄储层厚度变化的正演模型,确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况;设定时窗,提取目的层频率属性;根据测井资料,确定目的层地层厚度变化的正演模型,确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律;根据三维地震层位解释与测井资料,确定目的层的地层厚度;根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度,对目的层频率属性进行校正;根据校正后的目的层频率属性,预测薄储层厚度。本申请可以提高薄储层厚度预测的准确度。

基本信息
专利标题 :
基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428322A
申请号 :
CN202011178368.9
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张明戴晓峰徐右平孙夕平
申请人 :
中国石油天然气股份有限公司
申请人地址 :
北京市东城区东直门北大街9号
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
薛平
优先权 :
CN202011178368.9
主分类号 :
G01V1/30
IPC分类号 :
G01V1/30  G01V1/40  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V1/00
地震学;地震或声学的勘探或探测
G01V1/28
地震数据的处理,例如,分析、用于解释、用于校正
G01V1/30
分析
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 1/30
申请日 : 20201029
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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