一种有机光电器件的弱光检测系统及控制方法
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摘要

本发明公开了一种有机光电器件的弱光检测系统及控制方法,其中,系统包括:四维调节样品台,用于安放待检测的发光电器件,且控制发光电器件在三维中间中移动,四维调节样品台可围绕第一法线做旋转运动;准直模块,包括长焦镜头、半反半透镜、图像采集装置、光纤接口,长焦镜头对准四维调节样品台,半反半透镜位于长焦镜头和图像采集装置之间,光纤接口与光纤的输入端连接,准直模块可围绕第二法线做旋转运动;光谱仪,光谱仪与光纤的输出端连接。本发明通过调节四维调节样品台和准直模块的旋转角度,实现对发光器件电学性质和在任意角度下的极小面积下的发光影像采集及其弱发光光谱同步光谱检测,可广泛应用于有机半导体器件光电测试领域。

基本信息
专利标题 :
一种有机光电器件的弱光检测系统及控制方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112363039A
申请号 :
CN202011178633.3
公开(公告)日 :
2021-02-12
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
CN112363039B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
马於光蔡畅邓剑王艳
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
胡辉
优先权 :
CN202011178633.3
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01J3/28  G01J3/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-03-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20201029
2021-02-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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