可靠性测试方法及系统、设备、存储介质
实质审查的生效
摘要

一种可靠性测试方法及系统、设备和存储介质,可靠性测试方法包括:确定待测试器件的实际工作条件以及恒定的参考工作条件,实际工作条件包括一个或多个参数变量,参考工作条件和实际工作条件的参数变量相同;在参考工作条件下对待测试器件进行加速退化测试,获得参考寿命;获取累积寿命加速度,累积寿命加速度为对实际工作条件相对于参考工作条件的寿命加速比例与相对应的周期占空比的乘积进行积分获得;计算参考寿命与累积寿命加速度的比值,获得待测试器件在实际工作条件下的实际寿命。本发明利用累积寿命加速度计算实际寿命,降低可靠性测试的复杂度,且使得测试方法能够适用于测得任何模式的工作条件对应的实际寿命,提高了可靠性测试的精度。

基本信息
专利标题 :
可靠性测试方法及系统、设备、存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114444245A
申请号 :
CN202011194839.5
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
范伟海
申请人 :
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
代理机构 :
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
高静
优先权 :
CN202011194839.5
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F119/02  G06F119/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20201030
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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