阵列天线的校准方法、装置及存储介质
公开
摘要
本申请公开了一种阵列天线的校准方法、装置及存储介质。本申请中，基于被测阵列天线相对于探测天线的位置，构建阵列响应矩阵，并测试被测阵列天线的天线方向图，以获得天线方向图数据矢量，进而基于阵列响应矩阵和天线方向图数据数据获得既能体现耦合关系，又能体现通道幅相误差的幅相误差，并通过监测幅相误差的收敛性，最终根据相邻两次校准测试得到的满足收敛条件的幅相误差来确定适用于阵列天线的目标校准权值，从而无需在待校准阵列天线上添加任何硬件设备，便可以实现对待校准阵列天线的校准和解耦，有效保障了校准结果的精确度。
基本信息
专利标题 ：
阵列天线的校准方法、装置及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114531182A
申请号 ：
CN202011211359.5
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杜文豪宁东方段亚娟戴征坚张作锋
申请人 ：
南京中兴新软件有限责任公司
申请人地址 ：
江苏省南京市雨花台区紫荆花路68号
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202011211359.5
主分类号 ：
H04B7/04
IPC分类号 ：
H04B7/04 H04B17/00 H04B17/12
法律状态
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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