一种空心叶片残芯中子检测灵敏度的参考线确定方法
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摘要

本发明公开了一种空心叶片残芯中子检测灵敏度的参考线确定方法。该方法应用反应堆中子检测系统和对比试样,对比试样表面加工有含宽度和深度相同的两条平行长槽,其中一条长槽形成有填充型芯。包括步骤:(1)对比试样在反应堆中子检测系统中透照成像;(2)获取透照图像中等间距线的厚度和灰度;(3)绘制离散点图和参考线,照厚度T与对比度C之间线性关系。该方法避免了铸造实物叶片和脱芯工艺的繁琐步骤,便于得到不同材料厚度下、不同掺杂含量的残芯对比度灵敏度,该灵敏度接近真实的残芯检测灵敏度,同时还有利于定量残芯的细节检测能力,可实现残芯中子检测检测前的定量灵敏度的参考目的。

基本信息
专利标题 :
一种空心叶片残芯中子检测灵敏度的参考线确定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112525933A
申请号 :
CN202011211488.4
公开(公告)日 :
2021-03-19
申请日 :
2020-11-03
授权号 :
CN112525933B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
高祥熙陈木子王倩妮何方成贾新云
申请人 :
中国航发北京航空材料研究院
申请人地址 :
北京市海淀区北京市81号信箱科技发展部
代理机构 :
中国航空专利中心
代理人 :
仉宇
优先权 :
CN202011211488.4
主分类号 :
G01N23/05
IPC分类号 :
G01N23/05  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-04-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/05
申请日 : 20201103
2021-03-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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