一种孔偏检测方法
授权
摘要
本发明公开了一种孔偏检测方法，包括以下步骤：步骤一、将PCB板层叠连接形成多层PCB板；各PCB板在相同的位置打有一个通孔，通孔堆叠形成综合孔；步骤二、在多层PCB板底部和底部均放置参照板形成检测结构，参照板上成形有与每层PCB板层上通孔对应的参照孔，参照孔的直径不大于各PCB板最小的通孔的直径；步骤三、检测结构侧面正对X光检测装置进行检测；两个参照板相对的参照孔形成虚拟圆柱，检测得到虚拟圆柱到各层PCB板对应通孔两侧边的到铜距离；得到各PCB板上对应的通孔是否出现孔偏，并检测得到出现孔偏的PCB板。本发明的各PCB均只需要打一个同轴的通孔，从而减少了工艺边设计尺寸，节约了板材利用率，且能够快速识别层间错位，缩短判定时间。
基本信息
专利标题 ：
一种孔偏检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112504183A
申请号 ：
CN202011235602.7
公开（公告）日 ：
2021-03-16
申请日 ：
2020-11-07
授权号 ：
CN112504183B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
李亚军杨旭东金浩
申请人 ：
奥士康科技股份有限公司
申请人地址 ：
湖南省益阳市资阳区长春工业园龙塘村
代理机构 ：
长沙明新专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐新
优先权 ：
CN202011235602.7
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-04-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/00
申请日 : 20201107
申请日 : 20201107
2021-03-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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